ANÁLISE DE MATERIAIS

No que diz respeito às técnicas de caracterização de filmes finos e superfícies utilizando feixes de íons energéticos, estão implementadas no laboratório do acelerador Van de Graaff as técnicas RBS (Rutherford Backscattering Spectrometry), PIGE (Particle Induced Gama-rays emission), PIXE (Particle Induced X-Rays Emission), ERD (Elastic Recoil Detection) e NRA (Nuclear Reaction Analysis). Estas técnicas têm sido utilizadas na análise de amostras produzidas no Laboratório de Revestimentos Protetores mas também por pesquisadores de indústrias e de outros centros de pesquisa do país: Multivácuo Com. Ind., IF-UFRGS, IF-UFF, IF-UNICAMP, IF-USP, IF-USP/São Carlos, COPPE-UFRJ e CBPF.

Pesquisador responsável: Fernando Lázaro Freire Junior