No que diz respeito às técnicas de caracterização
de filmes finos e superfícies utilizando feixes de íons
energéticos, estão implementadas no laboratório do
acelerador Van de Graaff as técnicas RBS
(Rutherford Backscattering Spectrometry), PIGE (Particle Induced Gama-rays
emission), PIXE (Particle Induced X-Rays Emission), ERD (Elastic Recoil
Detection) e NRA (Nuclear Reaction Analysis). Estas técnicas
têm sido utilizadas na análise de amostras produzidas no
Laboratório de Revestimentos Protetores
mas também por pesquisadores de indústrias e de outros
centros de pesquisa do país: Multivácuo Com. Ind., IF-UFRGS,
IF-UFF, IF-UNICAMP, IF-USP, IF-USP/São Carlos, COPPE-UFRJ e CBPF. |